會影響老化房測試的因素 下

來源：林頻儀器 時間：2018-12-07 11:11

“活到老不如學(xué)到老”這句話每個人都是知道吧!所以今日繼續(xù)介紹會影響老化房測試的因素，下面讓我們一起來學(xué)習(xí)這些知識吧!

5、計算機(jī)接口與數(shù)據(jù)采集方式，有些老化測試系統(tǒng)采用分區(qū)方法：一個數(shù)據(jù)采集主機(jī)控制多個老化板，另外有些系統(tǒng)則是單板式采集。從實際情況來看單板式方法可以采集到更多數(shù)據(jù)，并且還具有更大的測試產(chǎn)量。

6、首先是老化房測試方法的選擇，而理想的情況是器件在老化工藝上花費的時間最少來到達(dá)提高總體產(chǎn)量，則會讓惡劣的電性能條件會助于故障加速，從而能快速反復(fù)進(jìn)行系統(tǒng)測試，這樣可以大基地啊減少總體老化時間。每單位時間里內(nèi)部節(jié)點切換次數(shù)越多，其器件受到的考驗就越大，故障也就出現(xiàn)得更快。

7、老化房老化板互連性、PCB設(shè)計以及偏置電路的復(fù)雜性，其化測試系統(tǒng)可能被有些人稱為高速測試，但如果機(jī)械連接或者是老化板本身特性會削弱信號質(zhì)量，那么測試速度將會是一個問題。如像過多機(jī)電性連接會增大整個系統(tǒng)的總電容和電感，老化板設(shè)計不良則會產(chǎn)生噪聲與串?dāng)_，而很差的引腳驅(qū)動器設(shè)計則會使快速信號沿所需的驅(qū)動電流大小受到限制等等，這些都僅是一部分影響速度的瓶頸，另外由于負(fù)載過大并存在阻抗、電路偏置以及保護(hù)元件值的選擇等也會使老化的性能受到影響。

對于正在使用老化房的用戶來說這些知識正是當(dāng)下所需要的好，所以我們更應(yīng)該要了解。